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誘電率誘電損失試験器

交渉可能更新07/18
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プロデューサー
製品カテゴリー
原産地

概要

GB/T 1409-2006電気絶縁材料の工業周波数、オーディオ、高周波での容量率と誘電体損失率を測定するための推奨方法、

製品詳細

誘電率誘電体損失試験器型式:HAD-JDB

一、基準を満たす:

ASTM D 150−11中実電気絶縁材料の交流損失特性と容量率(誘電率)の標準試験方法、

GB/T 1409-2006電気絶縁材料の工業周波数、オーディオ、高周波での容量率と誘電体損失率を測定するための推奨方法、

GB/T 1693-2007加硫ゴムの誘電率と誘電損失角正接値の測定方法、

GBT 5594.4-2015電子部品構造セラミック材料の性能試験方法第4部:誘電率と誘電損失正接値の試験方法

二、本体及び治具パラメータ:

プロジェクト/モデル

HAD-JDB

HAD-JDA

HAD-JDC

しんごうげん

DDSデジタル合成信号

しゅうはすうはんい

10KHZ-70MHZ

10KHZ-110MHZ

100KHZ-160MHZ

信号源周波数カバー比

7000:1

11000:1

16000:1

サンプリング精度

11BIT

12BIT

信号源周波数精度

3×10-5±1ワード、6ビット有効数

Q値測定範囲

1~1000自動/手動レンジ

Q値レンジシフト

30、100、300、1000、自動シフトまたは手動シフト

Q分解能

4ビット有効数、解像度0.1

Q測定動作誤差

<5%

インダクタンス測定範囲

1nH~8.4H、、、、解像度0.1

1nH~140mH解像度0.1

インダクタンス測定誤差

<3%

容量直接測定範囲

1pF~2.5uF

1pF~25uF

同調容量誤差分解能

±1 pFまたは<1%

主容量調整範囲

30~540pF

17~240pF

きょうめいてんたんさく

じどうそうさ

自己残留インダクタンス控除機能

あります

大容量値直接表示機能

あります

ゆうでんそんしつちょくどくきのう

あります

ゆうでんそんしつりつせいど

1万分の1

誘電体損失試験範囲

0.0001-1

誘電率直読機能

なし

あります

誘電率精度

千分の一

誘電率試験範囲

0-1000

LCD表示パラメータ

F,L,C,Q,LT,CT、帯域など

せいど

150 pF以下±1 pF、150 pF以上±1%

Q合格プリセット範囲

5~1000サウンドライトのヒント

周囲温度

0℃~+40℃

消費電力

約25 W

電源装置

220V±22V,50Hz±2.5Hz

極板寸法

38 mm/50 mm(二者択一)

極片ピッチ調整可能範囲

≥15mm

材料試験厚さ

0.1-10mm

治具プラグピッチ

25mm±0.01mm

クランプ損失正接値

≤4×10-4 (1MHz)

マイクロロッド分解能測定

0.001mm

しけんきょくばん

材料測定直径Φ38 mm/50 mm、厚さ調整可能≧15 mm

三、構成:

シーケンス番号

標準構成

単位/数量

1

ホスト

1台

2

S 916治具

セット

3

インダクタンス群

9匹

4

電源コード

1本

オプション:USBモジュール、液体カップ(極片直径Φ38 mmを測定する、液体カップ内径Φ48 mm、深さ7 mm