HemiView植物画像解析システム

ヘミビュー植物画像解析システム用途：

画像データファイルを処理することにより、葉面積指数、光照射ギャップ、ギャップ分布状況などの冠状構造に関連するものを取得する。放射線データの関連情報を分析することにより、冠状断裂のPARおよび冠層の下の放射線レベル。そのソフトウェアは放射指標、冠状物質指標、測定地点の光線被覆状況及び直射と拡散光の分布などを計算することができる。

使用する180度魚眼レンズと高精細度デジタルカメラは植物の冠の下や森林の地面から上に像を取る,さらにデジタルカメラの高精細度映像をソフトウェアにロードし、分析処理を行う。

ヘミビュー植物画像解析システム特徴：

・対話式図示位置決めツール：正確に記録された画像半球縦軸システム。磁場偏差を補償する、

・画像分類をサポート：強度区分限界と干渉画素。画像はリアルタイム更新によって分類される、

・画像の多重化と分割表示：分類と色/グレーなどの比率で表示するか、画像全体を分割して参照するか、

・画像ネガ：画像はネガモードに変換して表示と分析することができ、

・異なる空領域に番号を定義することができる：天頂角と方位角定義範囲、

・単一木の葉面積：直接通過可能ヘミビュー出力単一ツリーのLAI；

・局所画像を分析する：画像の中で分析に参加する必要がない部分を排除することができ、

・場所、レンズと太陽モデルのパラメータ：ユーザーは場所、レンズと太陽モードを任意の画像に設定でき、リストから選択しやすく、

・レンズの特徴を定義する：レンズ方程式はユーザーが現在のレンズと古いタイプを使用して提供したΔT；

・出力：解析結果はエクセル互換性のある表形式またはテキスト形式;

・カスタム出力パラメータ：ユーザーは異なる画像に基づいて異なる出力パラメータを定義することができる。

ヘミビュー植物画像分析システム出力出力パラメータ：
・スカイジオメトリ：重心、立体角、ピクセル計算を各スカイセクタに使用する、
・クリアランスレベル：スケールの可視スカイセクタ、
・葉面積指数：空セクタまたはすべての数値、
・太陽放射：直射及び散乱、冠状体の上方及び下方、エネルギー又は質量単位、
・位置係数：直接、間接（散乱）、すべて、
・時系列とSunflecks：日付を表示できる日盤（半陰影作用）と太陽放射、ユーザーがカスタマイズしたサンプリング間隔時間またはsunfleck順序
・オプションの余弦補正：任意の方位の切り取り表面を使用可能、
≪すべての数値｜All Number｜oem _ src≫:出力の大部分は、空のセクタを表形式化し、単一の全空または年の数値に集約できます。

パラメータ

画像ファイルの種類：BMP、JPEG、TIF、PhotoCD

画像解像度：zui小512×512、zui大4368×2912（デジタルカメラ関連）

レンズ変形レンズヘンケイ:複数の相関天頂角と光線距離が可能

直射光モデルちょくせつひかりもでる:簡単な空気伝達、ユーザーによる設定かんたんなくうきでんたつ、ゆーざーによるせってい

散乱光モデル：統一または標準曇天

データ出力：Excel互換表形式

総画素：1510万画素

zui大支持画像解像度：4368×2912画素

魚眼レンズ画角：180°

ストレージ容量：2 GB、拡張可能

伸縮性シングルアームブラケットの高さ：0.69～1.66メートル

三脚の高さ：zui高さ1.73 m