新型EA 1280は、Si−PINダイオードなどの他の半導体検出器よりも作業効率と分析精度が高い、中国標準（GB標準）推奨要件の検出器解像度を備えている。特に他の分析方法と比較して、X線蛍光分析は高速、無傷、簡単な元素分析を提供することができ、そのため、RoHSコンプライアンススクリーニングに何度も使用され続けている。

1.新型高性能半導体検出器（シリコンドリフト検出器（SDD））を使用して、テスト作業効率の向上とより信頼性の高い結果の獲得を容易にする。

2.同軸光学素子を用いて試料観察とX線照射を行い、各種試料の分析を容易にする。

3.使いやすいソフトウェアを搭載し、オペレータが簡単な品質制御とプロセス制御訓練を受けるだけでアナライザを使用できるようにする。