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X線蛍光めっき層厚測定器(AL-NP-7010)

交渉可能更新09/25
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概要

X線蛍光めっき層厚測定器はエネルギー分散X蛍光分析技術を採用し、同時に多種元素を測定する分析装置であり、ユーザーの応用要求に応じてNaからUまでの任意の多種元素の分析測定として配置することができる。また、金属めっき層及び元素含有量の測定のニーズを満たすための機能的なテストソフトウェア、友好的な操作インタフェースを備え、人間的な設計により、テスト作業をより簡単に完了させた。この装置は元素含有量とめっき層の厚さを測定する2つの機能を持っている。

製品詳細

X線蛍光めっき層厚測定器(AL-NP-7010)

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X線蛍光めっき層厚測定器はエネルギー分散X蛍光分析技術を採用し、同時に多種元素を測定する分析装置であり、ユーザーの応用要求に応じてNaからUまでの任意の多種元素の分析測定として配置することができる。また、金属めっき層及び元素含有量の測定のニーズを満たすための機能的なテストソフトウェア、友好的な操作インタフェースを備え、人間的な設計により、テスト作業をより簡単に完了させた。この装置は元素含有量とめっき層の厚さを測定する2つの機能を持っている。

金属めっき層の厚さ測定、めっき液とめっき層含有量の測定めっき、金属、PCB の、衛浴、電子電器、貴金属などの業界。


マシン全体のパフォーマンス:

●FAST SDD検出器

検出器の分解能はエネルギー分散X蛍光分光器を評価することである

パフォーマンスの主要指標の1つ

分解能<122 eV(分解能が低いほど感度が高い)

計数率>1000000 CPS

ベリリウム窓厚=0.005 mm

検出電力<1.2 W


X線管ターゲットロジウム(Rh)またはタングステン(W)

管電圧5-50 KV

管電流1-1000 uA

●マルチパスパルス振幅解析器(通称スペクトルエネルギー目盛り)

チャンネル数:2048チャンネル

●電源コントローラ

システム電源制御+5 VDC at 250 mA(1.2 W)

定冷房制御400 VDC

●低出力小型サイドウィンドウX線発生器(通称X線管)

内部に鉛を埋め込む特殊処理を施したX線管は全範囲遮蔽を行い、側窓X線出口エリアだけを残した。タンク絶縁油は高圧絶縁と冷却に使用され、0.005インチベリリウム窓の標準窓で、定格消費電力は50ワット、定格電圧は50キロボルトである。設計寿命>15000時間。

●高圧発生器

入力:85~265 Vac、47~63 Hz、力率補正。

1 kV~5 kVのモデルはUL 85~250 Vac入力基準を満たしている

電圧変動率:無負荷からフル負荷、出力電圧の0.01%

電流変動率:0~定格電圧、出力電流の0.01%

リップル:出力電圧の0.25%ピーク-ピーク

温度係数:電圧または電流調整、0.01%/℃

安定性:30分予熱後、0.05%/8時間

●フィルター自動変換システム

フィルタ自動変換システム:6種類のフィルタが自動的に選択され、自動的に変換される(フィルタ作用:励起源のスペクトル線エネルギースペクトル成分を改善し、多元素分析を行う時、高含有量成分の強いX線蛍光を抑制し、測定対象元素の測定精度を高めるために使用する)。

●安全放射線防止システム

再設計された低放射X線管は特殊処理(元から)されている

全閉鎖鉛板二重スポーク防止設計(設計構造から)

全自動鉛板フィルタ自動遮蔽装置

サンプルカバーが予期せずX線強制遮断装置をオンにする

遅延テストとX線警告システム

●強力な分析ソフトウェアワークステーション

ワンタッチ式の操作ソフトで、簡単で使いやすく、専門知識は必要ありません。

人間的なヒューマンインタフェース

各種テストパラメータは操作者の設定を必要とせず、カスタマイズされたレポート機能を強化します。

テストデータは自動的に保存され、履歴照会機能があります。

最前線の定性定量分析方法。

数十種類の元素を同時に分析することができる。

要素分析は高速で、分析時間は30秒から900秒まで調整可能です。

長時間の待機は不要で、自動的に管圧、管流を下げ、X線管の寿命を延長する。

X線管を温度管理し、X線管を保護し、寿命を延長する。

リアルタイムで計器の運行状態を監視し、容易に計器を維持する。

サンプルをテストする際にサンプルカバーを開く誤操作を防止し、ソフトウェアには警告操作のヒントがあり、同時に高圧電源をオフにします。

●サンプル分析の種類

固体、液体、粉末を直接測定することができ、複雑なサンプリング過程を必要とせず、サンプルを直接非破壊分析することができる。

●専門的なめっき層厚測定

単めっき層、多めっき層及び合金めっき層を分析することができる。

複数のめっき層を有する分析方法。

分析厚さ:一般的に0.05〜50 um(元素によって厚さが異なる)。