X-28レンズ散乱光テスターはEN 167関連コンテンツのために開発された散乱光テスト光学プラットフォームであり、1.5と2の間の散乱光に対応する光束と中心光束を測定することができる。水平揺動機構と回転治具は、X?28が屈折率を測定できるようにするために、測定点のプリズム効果を効果的に除去することができる。

*EN 167の光路構造に従う

そくていげんり

じどうしんクランプさまざまなレンズを素早く簡単に挟むことができる

製品の利点:
- *EN 167-2001(セクション4.2.2)およびAS/NZS 1337-1:2010(付録I)に記載されている技術要件に適合
- 絞り変換はワンタッチ制御を採用し、シークスイングは高精度電動テーブル制御を採用する
- 固定治具は、円形レンズ、切断されたレンズ、またはフレームに取り付けられたレンズを容易に測定することができる
- フリー治具はレンズの任意の位置を測定することができます
- 大面積センサを組み合わせた高精度AD変換により測定歪みが極めて小さいことを確保
- 650 nm狭帯域フィルタを内蔵し、外界光の干渉を低減
技術パラメータ:
- サイズ:L 106*W 56*H 33 cm(閉門時)、L 106*W 56*H 82 cm(開扉時)
- 重量:46 Kg(本体純重量)、70 Kg(木を含む包装)
- 給電:200-240 VAC 2.0 A 50/60 Hz
- 出力:USB 2.0
- 測定スポット:約3 mm
- 絞り開口:10 mm
- 絞りリング径:内21 mm外28 mm
- 散乱光測定角度:1.5°~ 2°
- 光源:650 nm 1 mW(Class-IIレーザー)
- 光源寿命:約5000時間
- センサ面積:10*10 mmシリコン基
- レンズ直径:27-84 mm(自由治具)、20 ~ 80 mm(スピンドル治具)
- 測定点許容プリズム度:≦12.5Δ