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jack.shi@scitest.cn
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電話番号
13381923051
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アドレス
上海市申浜路1051弄32棟1001室
上海九礼川貿易有限公司
jack.shi@scitest.cn
13381923051
上海市申浜路1051弄32棟1001室
主にダイオード、三極管、線形電圧調整器、制御可能なシリコンをテストするために使用されます。LED の,モスフェット,MESFET、IGBT,IC等のディスクリートパワーデバイスの熱抵抗試験及び分析。
二、フェーズ12の機能:
フェーズ12テスト可能RJ,RJC,Rjb Rjl のの熱抵抗(試験原理適合JEDEC51-1型定義された動的および静的試験方法)
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フェーズ12テストされたデータは、上図を生成します。左上の数字は、このデバイスには4つの階層があることを示しています(はっきりわかるように異なる階層を解くと、この図を図3に変換することができます)。最初はチップ下の接着層のインピーダンス値で、後タウはい完了のテスト時間、4つの階層のインピーダンス値の和がこのデバイスの熱インピーダンス値である。そしてそれぞれの曲がり角は熱が新しいものに入っていることを示しています
の階層です。各階層のデータは、このデバイスの異なる層からの放熱の良否を示し、異なるメーカーの同類製品にとって、譲る熱抵抗値が非常に良いメーカーを選びます。同時に、同じメーカー、同類製品、異なるロットの品質の違いを検出することもできます。このメーカーの生産プロセスの安定性を評価した。
1)トランジェントインピーダンス(熱) インピデンス)試験は、加熱を開始してから接合温度が安定するまでの過程における過渡インピーダンスを得ることができるデータです。上図を参照
2)ていじょうねつていこう(熱) 抵抗)次のような各パラメータのテストを行います。Rja、Rjb、Rjc、Rjl,デバイスが一定の作業を行っているとき電流を流した後。熱は絶えず外に拡散し、最後に熱平衡に達し、この時得られた結果は定常熱抵抗値である。熱平衡に達する前に試験されたのは熱インピーダンスである。
3)異なるデューティサイクル正方波で試験した場合のインピーダンスと熱インピーダンス値を得ることができる。
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図 二(に)