急速温度変化試験箱の温度場容積の電子温湿度性検出

急速温度変化試験箱の温度場容積の電子温湿度性検出

設備は以下の基準を満たす

GB/T 10592 -2008年高低温試験箱技術条件
GB/T 10586 -2006年湿熱試験箱の技術条件
GB/T 2423.1-2008年電工電子製品環境試験 第2部分：試験方法 試験A：低温
GB/T 2423.2-2008年電工電子製品環境試験 第2部分：試験方法 試験B：高温
GB/T 2423.3-2006年電工電子製品環境試験 第2部分：試験方法 試験タクシー：一定湿熱試験
GB/T 2423.4-2008年電工電子製品環境試験 第2部分：試験方法 試験Db の：交番湿熱（12時間 + 12時間循環）
GB/T 2423.22-2008年電工電子製品環境試験 第2部分：試験方法試験N：温度変化
GB/T 5170.1-2008年電工電子製品環境試験設備の検査方法 総則
GJB 150.3A-2009年装備実験室環境試験方法第3部分：高温試験
GJB 150.4A-2009年装備実験室環境試験方法第4部分：低温試験
GJB 150.9A-2009年装備実験室環境試験方法第9部分：湿熱試験

計器、計器、電気工学、電子製品の電子部品、完成品、半製品、半導体、化学、材料などの中で環境テストの機械全体と部品などに適応して温度の急速な変化あるいは漸進的な条件の下での適応性試験と応力スクリーニング試験を行い、試作品の予定条件の下での性能、行為に対して分析と評価（急速な変化）を行う

急速温度変化試験箱の温度場容積の電子温湿度性検出

制冷原理
急速温度変化試験箱の高低冷凍サイクルはいずれも逆カードサイクルを採用し、このサイクルは2つの等温プロセスと2つの断熱プロセスから構成される。その過程は以下の通りである：冷媒は圧縮機を通じて断熱的に高い圧力に圧縮し、仕事を消費して排気温度を上昇させ、その後冷媒は凝縮器などを通じて温地と周囲媒体と熱交換を行い、熱を周囲媒体に伝達する。後冷媒は弁の断熱膨張を経て仕事をし、この時冷媒温度は低下した。後冷媒は、蒸発器などを介して温度の高い物体から熱を吸熱し、被冷却物体温度を低下させる。このサイクルを繰り返して温度を下げることができます。

降温時間：非線形昇温速度（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃）

昇温時間：非線形昇温速度（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃/30℃）

線形昇温速度（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）

線形昇温速度（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃