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メール
jack.shi@scitest.cn
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電話番号
13381923051
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アドレス
上海市申浜路1051弄32棟1001室
製品カテゴリー
上海九礼川貿易有限公司
概要
パワーデバイスのI?V曲線（標準特性曲線）を自動的に生成することができる。失効分析には広く応用されている。新しい呼称はSTI 5000 C曲線追跡器である。この製品性曲線は現在、多くの5つの研究開発実験室、来料検査センター、および各科学研究機関、大学の実験室で使用されており、その正確で迅速な反応力で知られている。現在使用されている16 bitのデジタルモード変換は、解像度がさらに向上し、RDSONの解像度はマイクロヨーロッパレベルである。新しい呼称はSTI 5000 C曲線追跡器である。この製品性曲線は現在多くの5企業に存在している
製品詳細
STI-CURVE TRACEソフトウェアST 5000テスター本体の使用に合わせて、パワーデバイスのI-V曲線（標準特性曲線）を自動的に生成することができる。失効分析には広く応用されている。新しい呼称はSTI 5000 C曲線追跡器である。この製品性曲線は現在、多くの5つの研究開発実験室、来料検査センター、および各科学研究機関、大学の実験室で使用されており、その正確で迅速な反応力で知られている。現在使用されている16 bitのデジタルモード変換は、解像度がさらに向上し、RDSONの解像度はマイクロヨーロッパレベルである。
標準特性曲線：
Mosfet（NチャネルとPチャネル）
VGS範囲内のIDとVDS
固定VDS下のIDとVGS
ISとVSD
固定ID下のRDSとVGS
複数のVGSにおけるRDSとIDの比較
IDSSとVDS
トランジスタ（NPNとPNP）
HFEとIC
BVCE（O、S、R、V）とIC
BVEBOとIE
BVCBOとIC
VCE（SAT）とIC
VBE（SAT）とIC
VBE（ON）とIC（VBEテストを使用）
IC範囲内のVCE（SAT）とIB
VFとIF
